ਮਾਈਕਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ
ਸੇਵਾ ਜਾਣ-ਪਛਾਣ
ਵੱਡੇ ਪੈਮਾਨੇ ਦੇ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਸਰਕਟਾਂ ਦੇ ਨਿਰੰਤਰ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਚਿੱਪ ਨਿਰਮਾਣ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਧੇਰੇ ਗੁੰਝਲਦਾਰ ਹੁੰਦੀ ਜਾ ਰਹੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਅਸਧਾਰਨ ਮਾਈਕਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ ਅਤੇ ਰਚਨਾ ਚਿੱਪ ਉਪਜ ਦੇ ਸੁਧਾਰ ਵਿੱਚ ਰੁਕਾਵਟ ਬਣ ਰਹੀ ਹੈ, ਜੋ ਨਵੇਂ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਅਤੇ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਨੂੰ ਲਾਗੂ ਕਰਨ ਲਈ ਵੱਡੀਆਂ ਚੁਣੌਤੀਆਂ ਲਿਆਉਂਦੀ ਹੈ। ਸਰਕਟ ਤਕਨਾਲੋਜੀ.
GRGTEST ਗਾਹਕਾਂ ਨੂੰ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਅਤੇ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਸਰਕਟ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਨੂੰ ਬਿਹਤਰ ਬਣਾਉਣ ਵਿੱਚ ਮਦਦ ਕਰਨ ਲਈ ਵਿਆਪਕ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਮਾਈਕਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਮੁਲਾਂਕਣ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਵੇਫਰ ਲੈਵਲ ਪ੍ਰੋਫਾਈਲ ਦੀ ਤਿਆਰੀ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਨਿਰਮਾਣ ਨਾਲ ਸਬੰਧਤ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਗੁਣਾਂ ਦਾ ਵਿਆਪਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਫਾਰਮੂਲੇਸ਼ਨ ਅਤੇ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਨੂੰ ਲਾਗੂ ਕਰਨਾ ਸ਼ਾਮਲ ਹੈ। ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ.
ਸੇਵਾ ਦਾ ਘੇਰਾ
ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ, ਜੈਵਿਕ ਛੋਟੇ ਅਣੂ ਸਮੱਗਰੀ, ਪੌਲੀਮਰ ਸਮੱਗਰੀ, ਜੈਵਿਕ/ਅਕਾਰਬਿਕ ਹਾਈਬ੍ਰਿਡ ਸਮੱਗਰੀ, ਅਜੈਵਿਕ ਗੈਰ-ਧਾਤੂ ਸਮੱਗਰੀ
ਸੇਵਾ ਪ੍ਰੋਗਰਾਮ
1. ਚਿੱਪ ਵੇਫਰ ਲੈਵਲ ਪ੍ਰੋਫਾਈਲ ਦੀ ਤਿਆਰੀ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਫੋਕਸਡ ਆਇਨ ਬੀਮ ਟੈਕਨਾਲੋਜੀ (DB-FIB), ਚਿੱਪ ਦੇ ਸਥਾਨਕ ਖੇਤਰ ਦੀ ਸਟੀਕ ਕਟਿੰਗ, ਅਤੇ ਰੀਅਲ-ਟਾਈਮ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਇਮੇਜਿੰਗ, ਚਿੱਪ ਪ੍ਰੋਫਾਈਲ ਬਣਤਰ, ਰਚਨਾ ਅਤੇ ਹੋਰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ। ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੀ ਜਾਣਕਾਰੀ;
2. ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਨਿਰਮਾਣ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਗੁਣਾਂ ਦਾ ਵਿਆਪਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਜੈਵਿਕ ਪੌਲੀਮਰ ਸਮੱਗਰੀ, ਛੋਟੇ ਅਣੂ ਸਮੱਗਰੀ, ਅਜੈਵਿਕ ਗੈਰ-ਧਾਤੂ ਸਮੱਗਰੀ ਰਚਨਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਅਣੂ ਬਣਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਆਦਿ ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ;
3. ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ ਦੂਸ਼ਿਤ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਯੋਜਨਾ ਨੂੰ ਤਿਆਰ ਕਰਨਾ ਅਤੇ ਲਾਗੂ ਕਰਨਾ।ਇਹ ਗਾਹਕਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਦੂਸ਼ਕਾਂ ਦੀਆਂ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਸਮਝਣ ਵਿੱਚ ਮਦਦ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ: ਰਸਾਇਣਕ ਰਚਨਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਭਾਗ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, ਅਣੂ ਬਣਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਹੋਰ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ।
ਸੇਵਾ ਆਈਟਮਾਂ
| ਸੇਵਾਕਿਸਮ | ਸੇਵਾਇਕਾਈ |
| ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦਾ ਐਲੀਮੈਂਟਲ ਕੰਪੋਜੀਸ਼ਨ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ | l EDS ਤੱਤ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, l ਐਕਸ-ਰੇ ਫੋਟੋਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਸਪੈਕਟ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (XPS) ਤੱਤ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ |
| ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦਾ ਅਣੂ ਬਣਤਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ | l FT-IR ਇਨਫਰਾਰੈੱਡ ਸਪੈਕਟ੍ਰਮ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, l ਐਕਸ-ਰੇ ਵਿਭਿੰਨਤਾ (XRD) ਸਪੈਕਟ੍ਰੋਸਕੋਪਿਕ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, l ਨਿਊਕਲੀਅਰ ਮੈਗਨੈਟਿਕ ਰੈਜ਼ੋਨੈਂਸ ਪੌਪ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ (H1NMR, C13NMR) |
| ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦਾ ਮਾਈਕਰੋਸਟ੍ਰਕਚਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ | l ਡਬਲ ਫੋਕਸਡ ਆਇਨ ਬੀਮ (DBFIB) ਸਲਾਈਸ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ, l ਫੀਲਡ ਐਮੀਸ਼ਨ ਸਕੈਨਿੰਗ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (FESEM) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪਿਕ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਅਤੇ ਨਿਰੀਖਣ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ, l ਸਤਹ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਨਿਰੀਖਣ ਲਈ ਪਰਮਾਣੂ ਬਲ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (AFM) |
